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少子壽命測(cè)試儀配備有紅外光源,可測(cè)量包括硅塊、硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶、硅片等的少子壽命及鍺單晶的少子壽命
少子壽命測(cè)試儀配備有紅外光源,可測(cè)量包括硅塊、硅棒、硅芯、檢磷棒、檢硼棒、籽晶、硅片等的少子壽命及鍺單晶的少子壽命
1、儀器測(cè)試精度:≤±0.5%;
2、可測(cè)少子壽命范圍:0.1μs~7000μs;
3、測(cè)試電阻率范圍:≥0.1Ωcm 可擴(kuò)展到0.01Ωcm;
4、配備光源類(lèi)型:波長(zhǎng):980±30nm;
5、高頻振蕩源:用石英諧振器,振蕩頻率:30MHz;
6、前置放大器:放大倍數(shù)約25,頻寬2Hz~1MHz;
7、測(cè)量方式:采用對(duì)標(biāo)準(zhǔn)曲線讀書(shū)方式。